Consumibles para microscopio electrónico de barrido de emisión de posición de Japón
Xrd es difracción de rayos X, que puede analizar fases, SEM es un microscopio electrónico de barrido, que observa principalmente la microestructura, y TEM es un microscopio electrónico de transmisión, que observa principalmente una microestructura ultralimitada. AES se refiere a la espectroscopia de energía, que analiza principalmente la distribución de la concentración. La microscopía de efecto túnel STM también se utiliza para observar la ultraestructura. AFM es un microscopio de fuerza atómica que se utiliza principalmente para observar la morfología de superficies.
Proyecto:
El microscopio electrónico de transmisión (TEM), conocido como microscopio electrónico de transmisión, proyecta un haz de electrones acelerado y concentrado sobre una muestra muy delgada. Los átomos de la muestra chocan y cambian. dirección, produciendo dispersión de ángulo sólido. El ángulo de dispersión está relacionado con la densidad y el grosor de la muestra, por lo que se pueden formar imágenes con diferentes colores claros y oscuros. Generalmente, la resolución del microscopio electrónico de transmisión es de 0,1 a 0,2 nm y el aumento es de decenas de miles a millones de veces. Se utiliza para observar ultramicroestructuras, es decir, estructuras menores de 0,2μm que no se pueden ver claramente bajo un microscopio óptico, también conocidas como "submicroestructuras". TEM fue inventado por los científicos alemanes Ruskahe y Knoll en 1932 basándose en el trabajo de sus predecesores Garbor y Busch.
Otra sugerencia es que el autor consulte la literatura. Las explicaciones en la literatura son muy detalladas. Baidu sabe que la cantidad de palabras es limitada y solo puede publicar una cantidad limitada para usted.