¿Cuáles son las funciones del puente digital?

El puente digital es un instrumento que puede medir inductancia, capacitancia, resistencia e impedancia. Este es un dicho tradicional. La primera medición de impedancia utilizó el método de puente real con el desarrollo de la tecnología analógica y digital. Eliminó durante mucho tiempo este método de medición, pero el nombre de puente LCR todavía se usa hoy en día. Si se trata de un puente LCR que utiliza un microprocesador, se denomina puente digital LCR. Los usuarios generales también los llaman: probador LCR, puente LCR, medidor LCR, medidor LCR, etc.

Puede medir con precisión una gran cantidad de componentes electrónicos:

Amplia gama de objetos de medición

Componentes semiconductores: condensadores, inductores, núcleos magnéticos, resistencias, transformadores, Componentes de chip y medición de parámetros de impedancia de componentes de red, etc.

Otros componentes: Evaluación de impedancia de placas de circuito impreso, relés, interruptores, cables, baterías, etc.

Materiales dieléctricos: Evaluación del ángulo de pérdida de la constante dieléctrica de plásticos, cerámicas y otros materiales.

Materiales magnéticos: Evaluación de permeabilidad y ángulo de pérdida de ferritas, amorfos y otros materiales magnéticos.

Materiales semiconductores: Constante dieléctrica, conductividad y características C-V de los materiales semiconductores.

Material de cristal líquido: Características C-V como la constante dieléctrica y la constante elástica de la unidad de cristal líquido.

Capacidad para medir varios componentes y propiedades de materiales

Función de visualización mixta de múltiples parámetros

La visualización simultánea de múltiples parámetros puede satisfacer las necesidades de observación y análisis integrales de varios parámetros de distribución de componentes complejos Evalúe los requisitos sin tener que cambiar repetidamente los parámetros de medición.

El inductor L y su resistencia CC DCR se pueden medir y mostrar al mismo tiempo, mejorando significativamente la eficiencia de la medición de la inductancia.

Revele varias características de los dispositivos de inductancia

Utilizando polarización de CC interna/externa, combinada con varias funciones de prueba de escaneo, se puede analizar con precisión el rendimiento de los materiales magnéticos y los dispositivos de inductancia.

Con la función de prueba de superposición de corriente de polarización, se puede medir con precisión el rendimiento de superposición de corriente pequeña de dispositivos de inductancia de alta frecuencia, transformadores de comunicación y filtros. Usando un dispositivo de superposición de corriente externo, la corriente de polarización puede ser de hasta 40 A para un análisis preciso de dispositivos inductivos de alta potencia y alta corriente.

Medición precisa de capacitancia cerámica

1 kHz y 1 MHz son las principales frecuencias de prueba para materiales cerámicos y condensadores. Los condensadores cerámicos tienen las características de un valor de pérdida bajo. Al mismo tiempo, su capacidad y pérdida producirán cambios obvios cuando se aplica la señal de CA.

El instrumento tiene capacidades de prueba de banda ancha y puede proporcionar buena precisión, resolución de seis dígitos y funciones de control automático de nivel (ALC) para satisfacer las necesidades de pruebas confiables y precisas de materiales cerámicos y capacitores.

Medición de las características de capacitancia de celdas de cristal líquido

Las características de capacitancia-voltaje (C-Vac) son el método principal para evaluar el rendimiento de los materiales de cristal líquido. Los instrumentos convencionales miden el C-. Características de vacío de las celdas de cristal líquido. Un problema es que el voltaje máximo de prueba es insuficiente.

Utilizando la opción de medición extendida, puede proporcionar una resolución de 1 y un nivel de señal de prueba programable de hasta 20 Vms, lo que le permite medir las características capacitivas de los materiales de cristal líquido en condiciones óptimas.

Medición de materiales y componentes semiconductores

Al evaluar el proceso de fabricación de semiconductores MOS, se requieren parámetros como la capacitancia de la capa de óxido y la densidad de impurezas del sustrato. Estos parámetros se pueden medir desde el C-. Características de Vdc. Se derivan los resultados.

Al combinar la fuente de CC proporcionada con varias funciones de escaneo, la medición de las características de C-VDC se puede completar fácilmente.

Para probar dispositivos semiconductores en obleas, se requieren cables de extensión y sondas. Las opciones de cable de extensión de 1 m/2 m/4 m del instrumento pueden minimizar los errores de extensión de cable.

La capacitancia distribuida de varios diodos, transistores y tubos MOS también es el contenido de prueba de este instrumento.