Red de conocimiento informático - Problemas con los teléfonos móviles - Cómo analizar patrones de difracción de rayos X

Cómo analizar patrones de difracción de rayos X

¿Cómo analizar patrones y datos de difracción de rayos X en polvo?

Por ejemplo, los datos de un patrón de difracción de rayos X son los siguientes:

2-Theta d(?) BG Altura Altura Área Área FWHM XS(?)

13.583 6.5135 8 110 33.0 26.8 38.2 0.207 639

19.136 4.6342 4 24 7.2 5.4 7.7 0.207 639

20.160 4.4010 5 39 11.9 9,7 0,207 63 9

19,136 4,6342 4 24 7,2 5,4 7,7 0,641 3,3432 7 79 23,7 21,5 30,7 0,232 431

27,238 3,2714 6 333 100,0 70,1 100,0 0,179 78

31,159 2,8 680 5 143 42,9 36,0 51,4 0,232 441

23,558 3,7733 5 115 34,5 26,7 38,0 0,197 586

26,214 474

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Respecto a la pregunta "Cómo medir el número de fase según el patrón de difracción de rayos X", la respuesta es la siguiente:

SCAN: 3,0/85,0 /0,02/0,15 (segundo), Cu(40kV)Cu(40kV, 30mA), I(cps)=339,

SCAN: desde 3,0 grados /a 85,0 grados/paso 0,02 grados/tiempo 0,15 (segundos), 21/Parabólico

Filtro, Umbral=3,0, Corte=0,1, BG=3/1,0, Pico=Filtro de pico, Umbral=3,0, Corte=0,1, Pico=Punto pico