Descripción detallada de TEM

Los componentes de un microscopio electrónico de transmisión (TEM) incluyen: 1. Cañón de electrones emite electrones y consta de un cátodo, una rejilla y un ánodo. 2. La lente concentradora, es decir, una lente electrónica, recoge los haces de electrones y puede utilizarse para controlar la intensidad de la iluminación y el ángulo de apertura. 3. La sala de muestras es donde se colocan las muestras a observar y está equipada con un escenario giratorio para cambiar el ángulo de la muestra, así como equipos como calefacción y refrigeración. 4. La lente objetivo es una lente de corta distancia con gran aumento, que se utiliza para amplificar la imagen electrónica. La lente del objetivo es la clave para determinar la resolución y la calidad de la imagen de un microscopio electrónico de transmisión. 5. El espejo intermedio es una lente débil con aumento variable, que se utiliza para amplificar la imagen del electrón dos veces. Ajustando la corriente del espejo intermedio, se puede seleccionar la imagen o el patrón de difracción de electrones del objeto para su amplificación. 6. La lente transmisora ​​es una lente potente de gran aumento que aumenta aún más la imagen intermedia después del aumento secundario y luego la visualiza en la pantalla fluorescente. 7. La bomba de vacío secundaria evacua la cámara de muestra. 8. Dispositivo fotográfico utilizado para grabar imágenes. Dado que los objetos dispersan o absorben fácilmente los electrones, el poder de penetración es bajo. La densidad y el grosor de la muestra afectarán la calidad de la imagen final. Se deben preparar secciones ultrafinas más delgadas, generalmente de 50 a 100 nm. Por lo tanto, las muestras para observación con microscopía electrónica de transmisión deben procesarse en cantidades muy finas. Generalmente se prepara mediante el método de corte fino o método de grabado por congelación: (1) El método de corte fino generalmente fija la muestra con ácido ósmico y glutaraldehído, la incrusta en resina epoxi y hace avanzar las rebanadas de muestra mediante expansión térmica o avance en espiral, con un espesor de rebanada de 20~ 50 nm, teñido con sales de metales pesados ​​para aumentar el contraste. (2) El método de grabado por congelación también se denomina método de fractura por congelación. Después de congelar la muestra en hielo seco a -100 °C o nitrógeno líquido a -196 °C, desconecte rápidamente la muestra con un cuchillo frío. Después de que la muestra fracturada se calienta, el hielo se sublima rápidamente en condiciones de vacío, exponiendo la estructura de la sección transversal, lo que se llama grabado. Una vez completado el grabado, rocíe una capa de vapor de platino en la sección transversal en un ángulo de 45 grados y luego rocíe una capa de carbono en un ángulo de 90 grados para mejorar el contraste y la resistencia. Luego, la muestra se digiere con una solución de hipoclorito de sodio y se retira la película de carbono y platino, lo que se denomina película compuesta y puede revelar la forma de la superficie grabada de la muestra. La imagen observada bajo un microscopio electrónico representa la estructura de la superficie de fractura celular en la muestra. Para obtener más información, consulte: http://www.xianweijing.org/Electron Microscope/Transmission Electron Microscope.html